1、分析氟(F)到鈾(U)之間的元素;
2、元素分析濃度范圍<1ppm;
3、多元素同時測量時間10-60秒;
4、可選多種進樣器;
5、使用CCD相機進行樣品成像;
6、可調的X射線光斑直徑1- 15 mm,以便適應不同樣品大??;
7、高性能電制冷硅漂移探測器(SDD);
8、多功能XRF應用軟件;
9、薄膜厚度測量與鍍層分析;
10、UniQuant技術,無標樣多元素同時分析技術;
11、多語言支持;
12、機械耐久性,可保證長時間無故障運行;
13、可選TRACEcom,能夠輕松與LIMS交互;
14、設計緊湊,可以輕松移動;
15、低噪音、得益于智能溫控風扇;
16、自定義和現場應用方法建立功能;
17、易于安裝,更易于維護。